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发布:2024/5/10 12:31:46 来源:yndl1381

而如果C的容值越小,对电路的影响也就越小。但限于目前的测试系统,C3和串联后的电容值是几个pF的级别,而C1通常是20~30pF,所以仪器对负载电容量的影响在10%以上, 终会导致测量结果产生几个ppm(单位,百万分之一)的频率偏差,通常电路设计对晶体频偏的要求是30ppm左右,所以这个影响还是不能忽视的。但如果使用频谱分析仪,配合近场探头测试,因为仅在空间上有电磁场的耦合,所以仪器的影响可以忽略。由于实际应用中的热量,需要测量MOX涂层在真空下的电阻值,然后测量MOX涂层在空气中存在一定量的目标气体(以ppm测试)的情况下的电阻值,两者的比值作为校准设备的依据。在实际操作中,校准的MOX电阻测量是对环境中目标气体密度的指示。对传感器加热器和MOX测量值的控制,就好比对设备寄存器的读/写,由控制器ASIC执行,而ASIC又由测试系统通过I2C接口进行控制。I2C接口是四线制总线,由两个I2C总线(SCL和SDA)、中断信号和复位信号组成。ChipMcClelland的计数器这些计数器由电子设备构建并利用其蜂窝连接来远程发送数据。这使他们能够通过蜂窝网络将数据发送到他们的仪表板,这意味着他们不必再离公室。经过大约三年的访客统计,公园管理人员看到了Chip的工作取得的成功。Umstead州立公园已经将芯片的设备部署了两年多,每个入口都有一个设备。附近的Crabtree公园正在测试Chip的设备来统计他们的访问者。现在他正在大规模生产这些设备,以部署与美国各地的公园。

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了解了隔离与非隔离DUT设备区别后,我们通过以下图片了解CANDT系统中隔离与非隔离的接线区别以及其对测试的影响。隔离供电电路连接图非隔离供电电路连接图软件设置供电类型隔离与非隔离对测试的影响,四种测试情况:被测件隔离供电,选用隔离供电测试;DUT接入隔离供电端口,系统设置中被测设备设置为隔离供电,测试可正确进行;被测件非隔离供电,选用非隔离供电测试;DUT接入非隔离供电端口,系统设置中供电类型选择非隔离供电,测试可正确进行;被测件隔离供电,选用非隔离供电测试;DUT接入隔离供电端口,系统设置中供电类型选择非隔离供电,此时无法形成供电回路,DUT无法正常工作。FLIRONEPRO采用了VividIR?热图像技术,使得它的热分辨率提升了4倍,这样能够从更远距离测量更细微的部件,作业人员在带电设备周围可以更安全地工作。FLIRONEPRO还拥有更宽的温度量程,能够测量介于-2°至4°C之间的温度,与测量工具和报告生成功能相结合,几乎可以替代人们所有辛勤工作,应用范围更加广泛。此外,FLIRONEPRO具有MSX功能,用户可以在单张图像上获得比以往更多的图像细节。

特别是在中低端的模块电源市场来看,这个行业基本表现的是完全的竞争现状。在 的电源市场,受对应的技术、工艺等方面的制约,市场集中度很高,市场的份额也就被的品牌公司所占据。作为企业,要想中低端市场保持有力竞争,或进 市场与品牌刮分市场份额,是每一个业界人士都关注的课题。以下将从多个侧面浅析DC-DC模块电源的发展趋势,并对热点题目进行探究。产品思路的变革如今国内市场的竞争,不再完全是产品品质性能的竞争,已始向产品价格竞争优势的转变,则电路设计、物料选型、生产工艺等多方面的不断创新突破就要放在首要位置,寻求更简洁、更新颖、成本更低的方案,如果还是墨守成规,紧随竞争对手其后,那只会利润越来越低, 终被淘汰出局。

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