相位噪声指标对于当前的射频微波系统、通信系统、雷达系统等电子系统影响非常明显，将直接影响系统指标的优劣。该项指标对于系统的研发、设计均具有指导意义。相位噪声指标的测试手段很多，如何能够 的测量该指标是射频微波领域的一项重要任务。随着当前接收机相位噪声指标越来越高，相应的测试技术和测试手段也有了很大的进步。同时，与相位噪声测试相关的其他测试需求也越来越多，如何准确的进行这些指标的测试也愈发重要。一个电气系统就象是管道系统一样，电压好比是液体压力，电流好比是液体的流速，而电气绝缘就好比是管壁。绝缘防止电子从导体发生漏泄――其作用的大小是用绝缘电阻表示的。有效的绝缘电阻系统具有高的电阻值，通常大于几个兆欧。差的绝缘系统具有较低的绝缘电阻。为了发现管道系统中的渗漏，您需要对其加压。由于在水压时 容易发现渗漏现象，所以您不能关闭自来水来检查渗漏。您会限制可用的自来水，这样就能够在发现大的漏洞时不至于在周围喷洒出太多的水。典型的电磁继电器（EMR）在小负载的情况下，寿命一般在1000万次，仪器级的 继电器拥有超过10亿次的操作次数。影响寿命的主要的因素是测试系统中的负载的特征还有关的切换的位置的信号特征。不管是电子设备或者是继电器切换的信号是非常高的电压或者是电流，或者是在热切换（切换的时候，关是带有信号）的情况下，将会产生电弧，从而腐蚀关触点。热切换对继电器的使用寿命影响很大，冷切换和热切换的影响往往是想差3个数量级的。

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对于速度的渴求始终在增长，传输速率每隔几年就会加倍。这一趋势在诸如计算、SAS和SATA存储方面的PCIe以及云计算中的千兆以太网等很多现代通信系统中很普遍。信息对通过传输介质传送数据提出了巨大挑战。目前的传输介质仍然依赖于铜线，数据链路中的信号速率可以达到大于25Gbps，并且端口吞吐量可以大于100Gbps。这些串行数据传输设计使用差分信号的方式，通过被称为差分对的一对铜线来传送数据。A线路和B线路内的信号是等振幅、反相位高速脉冲。关于关电源EMI（Electro-MagneticInterference）的研究，有些从EMI产生的机理出发，有些从EMI产生的影响出发，都提出了许多实用有价值的方案。这里分析与比较了几种有效的方案，并为关电源EMI的措施提出新的参考建议。关电源电磁干扰的产生机理关电源产生的干扰，按噪声干扰源种类来分，可分为尖峰干扰和谐波干扰两种;若按耦合通路来分，可分为传导干扰和辐射干扰两种。现在按噪声干扰源来分别说明：二极管的反向恢复时间引起的干扰高频整流回路中的整流二极管正向导通时有较大的正向电流流过，在其受反偏电压而转向截止时，由于PN结中有较多的载流子积累，因而在载流子消失之前的一段时间里，电流会反向流动，致使载流子消失的反向恢复电流急剧减少而发生很大的电流变化。

为了将误差降低到，电阻模块应当有一个小的热电动势，并且使用误差较低的电流进行测量，以10mA的电流重复上述测量时可将误差降低到0.1%。使用四线制测量系统没有帮助，尽管它消除了引线电阻的影响。或者，如果热电动势的数据没有明显的时变时，你可以通过翻转DMM的极性并取两个读数的平均值来测量它们的影响。这样可以确认真正的阻值是多少，在应用电路中可能不会这样，但是用户应该了解。一些DMM在测量电阻时具有测量电压偏移的功能，这个可以用来补偿电阻测量，而不必逆转电流极性。