LED日光灯电源发热到一定程度会导致烧坏，关于这个问题，也见到过有人在行业论坛发过贴讨论过。本文将从芯片发热、功率管发热、工作频率降频、电感或者变压器的选择、LED电流大小等方面讨论LED日光灯电源发热烧坏MOS管技术。芯片发热本次内容主要针对内置电源调制器的高压驱动芯片。如芯片消耗的电流为2mA，300V的电压加在芯片上面，芯片的功耗为0.6W，当然会引起芯片的发热。驱动芯片的电流来自于驱动功率MOS管的消耗，简单的计算公式为I=cvf（考虑充电的电阻效益，实际I=2cvf，其中c为功率MOS管的cgs电容，v为功率管导通时的gate电压，所以为了降低芯片的功耗，必须想法降低v和f.如果v和f不能改变，那么请想法将芯片的功耗分到芯片外的器件，注意不要引入额外的功耗。此时我们多会选择检查电触点，加电容或者换更换零部件去解决这种干扰。隔绝干扰途径随着新能源汽车的发展，新能源电机的测试也成为不可忽视的项目，电机测试的时候我们也会发现，经常有一些脉冲信号的测试波形非常差，原因也多是脉冲被测信号线过于接近大电流线，进而产生了干扰。此时，测试多会采取的方法是两种信号的位置，或者在电流线上加一些磁环类的配件，除去一些干扰。优化干扰接收器接收信号的设备的“抵抗力”也会决定干扰 的作用。不仅需要捕捉信号幅值，而且还要捕捉信号如何随时间而变化。傅立叶变换是将时域函数变换成频域频谱的主要技术。该变换可以为从某个时域波形中采样的信号给出某个时间点的频谱快照。它使得瞬时频谱可以测量，从而可以测量某个信号在任何时刻的频率分量。据此，可以观察频谱随时间而发生的变化，了解什么时候存在以及什么时候不存在干扰，时域事件和频域事件之间是如何关联的。在离散傅立叶(DFT)变换中，一定数量时域信号样点被转换成一定数量的频率样点，每一个频率样点都由时域样点通过算法函数计算得出。

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EMI诊断在实验室使用普通的测试仪器即完成，带有FFT分析功能的中 示波器，普通的频谱分析仪，近场探头，手艺好的工程师还可以自己性能良好的近场探头，对于很多较强的EMI辐射，某些回路过大的关电源，甚至只需要一根裸露的导线即可探测到空间中的骚扰信号。这种定性分析主要针对的是硬件设计人员，目的是要快捷简便，成本低廉，重复性好。图2使用频谱分析仪和近场探头进行EMI诊断?EMI预兼容测试（PreCompliancEMI预兼容测试在产品原型和试产阶段，一般要在产品级或系统级进行预兼容（PreComplianc测试，预兼容并没有一个明确的参考标准，就是尽量低成本地模拟兼容测试标准，对EMI状况进行较正式的摸底，避免在正式的兼容测试中失败。煤的自燃是煤炭堆场普遍关注的问题。如果接触氧气中，煤会与之发生反应，并产生热，当温度上升到一定程度时，煤便会自发点燃。对于有些煤种，是否发生自燃并不重要，重要的是什么时候发生。OBA规划师DickMeijer表示：“煤的自燃是我们每天必须考虑的问题。为了防止自燃的发生，我们必须采取恰当的措施。更具体地说，我们派出挖掘机或轮式装载机将可疑区域的煤挖出并铺。而且我们利用专门的防燃设备将这个区域夯实，将氧气排出煤堆。

泄漏同轴电缆（LeakyCoaxialCable）通常简称为泄漏电缆或漏泄电缆，其主要工作原理是电磁波在泄漏电缆中纵向传输的同时通过槽孔向外界辐射电磁波；外界的电磁场也可通过槽孔感应到泄漏电缆内部并传送到接收端。漏泄同轴电缆，是一种特殊的同轴电缆,与普通同轴电缆的区别在于：其外导体上有用作辐射的周期性槽孔。普通同轴电缆的功能，是将射频能量从电缆的一端传输到电缆的另一端，并且希望有的横向屏蔽，使信号能量不能穿透电缆以避免传输过程中的损耗。